?直觀的圖形化界面設計，簡化了參數(shù)配置及I-V測試分析過程
?支持從測量設置、執(zhí)行到結(jié)果分析、數(shù)據(jù)管理的整個表征過程
?針對MOSFET/BJT/Diode/Resistor提供即用型測試項，快速調(diào)用
?自動化測試序列功能，連續(xù)執(zhí)行器件多個參數(shù)測試
?自動生成I-V曲線及運行結(jié)果參數(shù)，加速曲線特性分析
?多通道同步快速測試模式，最高支持32CH待測物同時在線測試
?直觀的測試報表，將測試數(shù)據(jù)及圖表保存于數(shù)據(jù)庫并可導出excel
?強大的圖表在線分析功能，支持曲線縮放、區(qū)域標記、切線等分析工具
?可搭配IT2800系列SMU，分辨率最高可達100nV/10fA
即用型測試項，加速器件表征測試
SPS5000軟件具有各種強大的功能，可以快速進行測量并以圖形化方式獲取結(jié)果。為加速半導體器件檢定測試過程，SPS5000針對常見的器件類型，例如MOSFET、二極管、BJT以及薄膜電阻配備多種即用型測試項，使用者無需進行任何的測試項開發(fā)或代碼編程，即可快速執(zhí)行復雜的半導體測試。以MOSFET的Id-Vd輸出特性測試為例，傳統(tǒng)的測試過程需要經(jīng)過：定義測試變量-----開發(fā)測試流程-----編寫測試代碼-----執(zhí)行測試。而通過SPS5000軟件用戶僅需要三個簡單的步驟，即可快速完成測試，第一步選擇即用型測試項Id-Vd-----第二步配置測量條件-----第三步執(zhí)行測試。
靈活提供測試序列，提升測試效率
SPS5000軟件提供了一種靈活且高效的方法，允許用戶選擇多個測試項來構(gòu)建測試序列，以便對半導體器件參數(shù)指標進行連續(xù)測試，從而顯著縮短了測試時間。這項功能適用于具備相同接線方式的測試項。在進行測試配置時，當您選擇其中一個測試項，軟件會自動顯示具有相同測試接線的其他測試項。您可以根據(jù)具體的測試場景和需求，選擇一次執(zhí)行單個測試項（如Id-Vd）或組合成測試序列進行連續(xù)測試（Id-Vd，Vth，IonIoffSlop），以實現(xiàn)半導體器件性能的評估和驗證。
